60Co გამა-ფოტონებით დასხივებული მონოკრისტალური n-Si+0.4 ატ%Ge:P შენადნობის ელექტროფიზიკური თვისებები

მონოკრისტალური SiGe შენადნობი γ-რადიაცია n-p კონვერსია რადიაციული დეფექტი იზოქრონული მოწვა

ავტორები

ტომ. 4 No. 4 (2022)
სტატიები

ჩამოტვირთვები

შესწავლილია 60Co გამა-ფოტონებით დასხივებული მონოკრისტალური n-Si+0.4ატ%Ge:P შენადნობში ელექტროფიზიკური თვისებები. იზოქრონული მოწვების 20-400°C ტემპერატურულ ინტერვალში გამოვლენილია კუთრი ელექტრული წინაღობის, დენის მატარებლების კონცენტრაციისა და ძვრადობის არამონოტონური ცვლილებები. გაანალიზებულია რადიაციული დეფექტების (PV, VO, VO2, CiCs და CiOi) სტრუქტურაში მიმდინარე გარდაქმნების წვლილი ელექტრული მახასიათებლების ტემპერატურულ ცვლილებებში. იზოქრონული მოწვის კრიტიკული ტემპერატურის (~100°C) არეში გამოვლენილია n-p კონვერსია. 120-150°C ინტერვალში გამოვლინდა PV ცენტრების დისოციაცია და ელექტრულად აქტიური VO ცენტრების ფორმირება. აღნიშნულის შედეგად იზრდება დენის მატარებლების კონცენტრაცია. ამაღლებულ ტემპერატურებზე (T≥150°C) ელექტრული მახასიათებლები განიცდიან არამონოტონურ ცვლილებებს. გაანალიზებულია გერმანიუმის წვლილი n-SiGe შენადნობის ელექტროფიზიკური მახასიათებლების ანომალურ ტემპერატურულ ცვლილებებში.

ამ ავტორ(ებ)ის ყველაზე წაკითხვადი სტატიები

მსგავსი სტატიები

1 2 3 > >> 

თქვენ ასევე შეგიძლიათ მსგავსი სტატიების გაფართოებული ძიების დაწყება ამ სტატიისათვის.