[1]
დარსაველიძე გ., სიჭინავა ა., შამათავა კ., ქადარია მ., and აბრამიშვილი რ., “ელექტრონებით დასხივების გავლენა სტრუქტურულ ფაზურ გარდაქმნებზე n-Si-ის მიკროინდენტირების პროცესში”, GS, vol. 5, no. 2, pp. 41–48, Apr. 2023.